加速老化测试是评估IC可靠性的一项关键性基础测试，它采用电应力加速的方式模拟器件的长期运行。因为测试中应用的电激励反映了器件工作的最坏情况，使用测试过程基本上模拟运行了器件的整个使用寿命。

功能

        ▅  可支持JESD22标准GaN器件所有上电实验类型，包括HTOL、HTRB、IOL、THB实验，部分实验无需焊台、温箱、温循设备等辅助加热设备，极大节省设备采购和使用成本；

        ▅  可输出480路可调栅压信号，同时支持最多480只GaN单管同时实验，可同步进行多个Lot多个样本实验；

        ▅  特有功放管失效监控机制，在一定范围内可通过指示灯反应功放管是否失效（栅极短路）；

        ▅  带有栅压步进操作程序，能按照推荐步进统一调整栅压，大大降低器件在实验过程中开启门限变化需要调整栅压的时间开销，极大提升操作效率，同时带有最多15个温度传感器，支持最多3块射频板四周及中间部分温度读取；

        ▅  带有外部接口，可采用信号发生器灵活配置IOL实验的开关周期，能直接驱动48V风扇，并提供外部控制信号控制220V风扇的继电器，无需温循设备即可达到功放管结温周期变化100℃以上；

        ▅  射频板支持外供统一栅压和高漏压，无需控制板可单独配置HTRB、THB实验环境；

        ▅  射频板为一次性消耗品，需根据用户需求定制开发，可支持陶封、塑封GaN器件，支持表贴和沉槽安装等安装方式。

优势

        ▅  供电简单，极大减少功放管栅压单独供电的设备需求，以及串行实验带来的时间开销；

        ▅  操作简单，易于监控温度，可直接根据热阻推算功放管结温，实验中各只功放管温度相差5℃以内，可根据实际温度任意调整功放栅压，且有记忆存储功能，便于精准控制功放管工作状态以及问题反查。