数据转换器（ADC/DAC）测试系统解决方案覆盖INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ与电压高/低临界测试。半导体测试平台可让工程师建构高效半导体测试系统。这些系统可缩短开发时间并减少设备体积，满足日趋复杂的测试需求。
EN